Sciact
  • EN
  • RU

Phase formation in ALD Hf1–xTixO2 and Zr1–xTixO2 films from amorphous to crystalline solid solutions Научная публикация

Журнал Bulletin of Materials Science
ISSN: 0973-7669 , E-ISSN: 0250-4707
Вых. Данные Год: 2026, Том: 49, Номер статьи : 173, Страниц : 14 DOI: 10.1007/s12034-026-03653-0
Ключевые слова Atomic layer deposition; mixed oxides; phase formation; solid solution.
Авторы KHIZHNYAK EUGENE A 1 , SHAYAPOV VLADIMIR R 1 , FEDORENKO ANASTASIYA D 1 , KOROLKOV ILYA V 1 , GORYAINOV SERGEI V 2 , MAXIMOVSKIY EUGENE A 1 , LEBEDEV MIKHAIL S 1
Организации
1 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry SB RAS
2 Sobolev Institute of Geology and Mineralogy SB RAS

Информация о финансировании (1)

1
Библиографическая ссылка: KHIZHNYAK E.A. , SHAYAPOV V.R. , FEDORENKO A.D. , KOROLKOV I.V. , GORYAINOV S.V. , MAXIMOVSKIY E.A. , LEBEDEV M.S.
Phase formation in ALD Hf1–xTixO2 and Zr1–xTixO2 films from amorphous to crystalline solid solutions
Bulletin of Materials Science. 2026. V.49. 173 :1-14. DOI: 10.1007/s12034-026-03653-0 WOS Scopus
Даты:
Поступила в редакцию: 7 нояб. 2025 г.
Принята к публикации: 11 февр. 2026 г.
Опубликована в печати: 17 авг. 2026 г.
Опубликована online: 17 авг. 2026 г.
Идентификаторы БД:
≡ Web of science: WOS:001851245800001
≡ Scopus: 2-s2.0-105047544966
Альметрики: