Sciact
  • EN
  • RU

Characterization of Thin Boron and Silicon Carbonitride Films by Wavelength Dispersive Spectroscopy Научная публикация

Журнал Protection of Metals and Physical Chemistry of Surfaces
ISSN: 2070-206X , E-ISSN: 2070-2051
Вых. Данные Год: 2017, Том: 53, Номер: 6, Страницы: 1187–1191 Страниц : DOI: 10.1134/S2070205117060211
Авторы Sulyaeva V.S. 1 , Plekhanov A.G. 1 , Maksimovskii E.A. 1 , Fainer N.I. 1 , Rumyantsev Yu.M. 1 , Kosinova M.L. 1
Организации
1 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, 630090 Russia
Библиографическая ссылка: Sulyaeva V.S. , Plekhanov A.G. , Maksimovskii E.A. , Fainer N.I. , Rumyantsev Y.M. , Kosinova M.L.
Characterization of Thin Boron and Silicon Carbonitride Films by Wavelength Dispersive Spectroscopy
Protection of Metals and Physical Chemistry of Surfaces. 2017. V.53. N6. P.1187–1191. DOI: 10.1134/S2070205117060211 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex
Оригинальная: Суляева В.С. , Плеханов А.Г. , Максимовский Е.А. , Файнер Н.И. , Румянцев Ю.М. , Косинова М.Л.
Характеризация тонких пленок карбонитридов бора и кремния методом волнодисперсионной спектроскопии
Физикохимия поверхности и защита материалов. 2017. V.53. N6. P.662-666. DOI: 10.7868/s0044185617060225 РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 4 июл. 2016 г.
Опубликована в печати: 1 июн. 2017 г.
Идентификаторы БД:
Web of science: WOS:000427652800031
Scopus: 2-s2.0-85044019001
РИНЦ: 35535315
OpenAlex: W2793023087
Цитирование в БД:
БД Цитирований
OpenAlex 6
Web of science 6
Scopus 6
РИНЦ 5
Альметрики:
6
CITATIONS
6 total citations on Dimensions.
6 Total citations
4 Recent citations
0.47 Field Citation Ratio
n/a Relative Citation Ratio