Sciact
  • EN
  • RU

X-ray photoelectron and auger spectroscopic study of the chemical composition of BCxNy films Научная публикация

Журнал Journal of Structural Chemistry
ISSN: 1573-8779 , E-ISSN: 0022-4766
Вых. Данные Год: 2012, Том: 53, Номер: 4, Страницы: 699-707 Страниц : 9 DOI: 10.1134/s0022476612040129
Авторы Kesler V.G. 1 , Kosinova M.L. 2 , Rumyantsev Yu.M. 2 , Sulyaeva V.S. 2
Организации
1 A. V. Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Division, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk
2 A. V. Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Division, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk
Библиографическая ссылка: Kesler V.G. , Kosinova M.L. , Rumyantsev Y.M. , Sulyaeva V.S.
X-ray photoelectron and auger spectroscopic study of the chemical composition of BCxNy films
Journal of Structural Chemistry. 2012. V.53. N4. P.699-707. DOI: 10.1134/s0022476612040129 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex
Оригинальная: Кеслер В.Г. , Косинова М.Л. , Румянцев Ю.М. , Суляева В.С.
Исследование химического состава пленок BCxNy методами РФЭС и Оже-спектроскопии
Журнал структурной химии. 2012. Т.53. №4. С.710 – 717.
Даты:
Опубликована в печати: 1 авг. 2012 г.
Поступила в редакцию: 12 дек. 2012 г.
Идентификаторы БД:
Web of science: WOS:000309346900012
Scopus: 2-s2.0-84867059496
РИНЦ: 20489712
OpenAlex: W2091066848
Цитирование в БД:
БД Цитирований
Web of science 12
OpenAlex 12
Scopus 12
РИНЦ 11
Альметрики: