Sciact
  • EN
  • RU

Исследование химического состава пленок BCxNy методами РФЭС и Оже-спектроскопии Научная публикация

Журнал Журнал структурной химии
ISSN: 2542-0976 , E-ISSN: 0136-7463
Вых. Данные Год: 2012, Том: 53, Номер: 4, Страницы: 710 – 717 Страниц : 9
Авторы Кеслер В.Г. 1 , Косинова М.Л. 2 , Румянцев Ю.М. 2 , Суляева В.С. 2
Организации
1 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, Новосибирск
2 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, Новосибирск
Библиографическая ссылка: Кеслер В.Г. , Косинова М.Л. , Румянцев Ю.М. , Суляева В.С.
Исследование химического состава пленок BCxNy методами РФЭС и Оже-спектроскопии
Журнал структурной химии. 2012. Т.53. №4. С.710 – 717.
Переводная: Kesler V.G. , Kosinova M.L. , Rumyantsev Y.M. , Sulyaeva V.S.
X-ray photoelectron and auger spectroscopic study of the chemical composition of BCxNy films
Journal of Structural Chemistry. 2012. V.53. N4. P.699-707. DOI: 10.1134/s0022476612040129 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 12 дек. 2011 г.
Опубликована в печати: 1 авг. 2012 г.
Идентификаторы БД: Нет идентификаторов
Цитирование в БД: Пока нет цитирований