Accounting the Eccentricity of a Polycrystalline Sample in the Debye–Scherrer Scheme. Certification of a New Y2O3 XRD Standards

Accounting the Eccentricity of a Polycrystalline Sample in the Debye–Scherrer Scheme. Certification of a New Y2O3 XRD Standards Научная публикация

Журнал

Journal of Structural Chemistry
ISSN: 1573-8779 , E-ISSN: 0022-4766

Вых. Данные

Год: 2025, Том: 66, Номер: 10, Страницы: 2225-2238 Страниц : 14 DOI: 10.1134/S0022476625100208

Ключевые слова

XRD, area detector, calibration, small crystals, unit cell parameters, accuracy, reference, eccentricity

Авторы

Ivanova Y.A. ^1,2 , Kudryavtsev A.L ^1,2 , Serebrennikova P.S ^1,2 , Gromilov S.A. ^1,2

Организации

1	Novosibirsk State University, Novosibirsk, Russia
2	Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia

Issues related to the procedure of optimizing the calibration of modern area-detector diffractometers using reference single crystals are considered. It is shown that the accuracy of measuring the unit cell parameters (UCPs) of polycrystalline samples in the Debye–Scherrer scheme can be improved by considering the eccentricity. The procedure is tested on a CeO2 polycrystalline sample (SRM674b). The value obtained for the cubic unit cell parameter a = 5.4117(2) Å differs from the reference one by 0.0002 Å, in agreement with the experiment's absolute error. The XRD certification of a promising Y2O3 XRD standard is performed (TU 48-4-524-90; ItO-V grade; 99.999% purity; cubic unit cell parameter a is 10.6047(3) Å).

Ivanova Y.A. , Kudryavtsev A.L. , Serebrennikova P.S. , Gromilov S.A.
Accounting the Eccentricity of a Polycrystalline Sample in the Debye–Scherrer Scheme. Certification of a New Y2O3 XRD Standards
Journal of Structural Chemistry. 2025. V.66. N10. P.2225-2238. DOI: 10.1134/S0022476625100208

Иванова Ю.А. , Кудрявцев А.Л. , Серебренникова П.С. , Громилов С.А.
Учет эксцентриситета поликристаллического образца при съемке в схеме Дебая-Шеррера. Аттестация нового рентгенографического эталона Y2O3
Журнал структурной химии. 2025. Т.66. №10. 154688 :1-13. DOI: 10.26902/JSC_id154688

Поступила в редакцию:	4 авг. 2025 г.
Принята к публикации:	28 авг. 2025 г.
Опубликована online:	28 авг. 2025 г.
Опубликована в печати:	8 нояб. 2025 г.

Нет идентификаторов

Пока нет цитирований