Учет эксцентриситета поликристаллического образца при съемке в схеме Дебая-Шеррера. Аттестация нового рентгенографического эталона Y2O3

Учет эксцентриситета поликристаллического образца при съемке в схеме Дебая-Шеррера. Аттестация нового рентгенографического эталона Y2O3 Научная публикация

Журнал

Журнал структурной химии
ISSN: 2542-0976 , E-ISSN: 0136-7463

Вых. Данные

Год: 2025, Том: 66, Номер: 10, Номер статьи : 154688, Страниц : 13 DOI: 10.26902/JSC_id154688

Ключевые слова

рентгеновская дифрактометрия, двумерный детектор, калибровка, малые кристаллы, параметры элементарной ячейки, точность, эталон, эксцентриситет

Авторы

Иванова Юлия Андреевна ^1,2 , Кудрявцев Артем Леонидович ^1,2 , Серебренникова Полина Сергеевна ^1,2 , Громилов Сергей Александрович ^1,2

Организации

1	Новосибирский государственный университет
2	Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН

Рассмотрены вопросы, касающиеся оптимизации проведения калибровки современных дифрактометров, оснащенных 2D-детектором, с помощью эталонных монокристаллов. Показано, что точность измерений ПЭЯ поликристаллических образцов в схеме Дебая-Шеррера можно повысить за счет учета эксцентриситета. Тестирование методики проведено на поликристаллическом образце CeO2 – SRM674b, полученное значение параметра элементарной кубической ячейки а = 5.4117(2) Å отличается от эталонного на 0.0002 Å, что соответствует абсолютной погрешности проведенного эксперимента. Проведена рентгенографическая аттестация перспективного рентгенографического эталона Y2O3 (ТУ 48-4-524-90, марка ИтО-В, чистота 99.999 %), значение параметра элементарной кубической ячейки а = 10.6047(3) Å.

Иванова Ю.А. , Кудрявцев А.Л. , Серебренникова П.С. , Громилов С.А.
Учет эксцентриситета поликристаллического образца при съемке в схеме Дебая-Шеррера. Аттестация нового рентгенографического эталона Y2O3
Журнал структурной химии. 2025. Т.66. №10. 154688 :1-13. DOI: 10.26902/JSC_id154688

Ivanova Y.A. , Kudryavtsev A.L. , Serebrennikova P.S. , Gromilov S.A.
Accounting the Eccentricity of a Polycrystalline Sample in the Debye–Scherrer Scheme. Certification of a New Y2O3 XRD Standards
Journal of Structural Chemistry. 2025. V.66. N10. P.2225-2238. DOI: 10.1134/S0022476625100208

Поступила в редакцию:	4 авг. 2025 г.
Принята к публикации:	28 авг. 2025 г.
Опубликована online:	28 авг. 2025 г.
Опубликована в печати:	30 окт. 2025 г.

Нет идентификаторов

Пока нет цитирований