A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates | Sciact

A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates Научная публикация

Журнал

Journal of Analytical Chemistry
ISSN: 1608-3199 , E-ISSN: 1061-9348

Вых. Данные

Год: 2023, Том: 78, Номер: 3, Страницы: 316-323 Страниц : 8 DOI: 10.1134/s1061934823030097

Авторы

Medvedev N.S. ¹ , Kurbatova V.D. ^1,2 , Saprykin A.I. ^1,2

Организации

1	Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia
2	Novosibirsk National State Research University, Novosibirsk, Russia

Информация о финансировании (1)

Министерство науки и высшего образования Российской Федерации

121031700315–2

Medvedev N.S. , Kurbatova V.D. , Saprykin A.I.
A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates
Journal of Analytical Chemistry. 2023. V.78. N3. P.316-323. DOI: 10.1134/s1061934823030097 WOS Scopus OpenAlex

Медведев Н.С. , Курбатова В.Д. , Сапрыкин А.И.
Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей
Журнал аналитической химии. 2023. Т.78. №3. С.208-215. DOI: 10.31857/S004445022303009X РИНЦ OpenAlex

Поступила в редакцию:	11 апр. 2023 г.
Опубликована в печати:	6 мая 2023 г.

Web of science:	WOS:000983214500005
Scopus:	2-s2.0-85158822407
OpenAlex:	W4372183691

БД	Цитирований
OpenAlex	1
Web of science	2
Scopus	2