Sciact
  • EN
  • RU

Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей Научная публикация

Журнал Журнал аналитической химии
ISSN: 0044-4502
Вых. Данные Год: 2023, Том: 78, Номер: 3, Страницы: 208-215 Страниц : 8 DOI: 10.31857/S004445022303009X
Авторы Медведев Николай Сергеевич 1 , Курбатова Валерия Дмитриевна 1,2 , Сапрыкин Анатолий Ильич 1,2
Организации
1 Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
2 Новосибирский государственный университет
Библиографическая ссылка: Медведев Н.С. , Курбатова В.Д. , Сапрыкин А.И.
Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей
Журнал аналитической химии. 2023. Т.78. №3. С.208-215. DOI: 10.31857/S004445022303009X РИНЦ OpenAlex
Переводная: Medvedev N.S. , Kurbatova V.D. , Saprykin A.I.
A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates
Journal of Analytical Chemistry. 2023. V.78. N3. P.316-323. DOI: 10.1134/s1061934823030097 WOS Scopus OpenAlex
Идентификаторы БД:
РИНЦ: 50404529
OpenAlex: W4394816603
Цитирование в БД:
БД Цитирований
OpenAlex 2
РИНЦ 1
Альметрики: