Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей Научная публикация
Журнал |
Журнал аналитической химии
ISSN: 0044-4502 |
||||
---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2023, Том: 78, Номер: 3, Страницы: 208-215 Страниц : 8 DOI: 10.31857/S004445022303009X | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Медведев Н.С.
, Курбатова В.Д.
, Сапрыкин А.И.
Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей
Журнал аналитической химии. 2023. Т.78. №3. С.208-215. DOI: 10.31857/S004445022303009X РИНЦ OpenAlex
Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей
Журнал аналитической химии. 2023. Т.78. №3. С.208-215. DOI: 10.31857/S004445022303009X РИНЦ OpenAlex
Переводная:
Medvedev N.S.
, Kurbatova V.D.
, Saprykin A.I.
A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates
Journal of Analytical Chemistry. 2023. V.78. N3. P.316-323. DOI: 10.1134/s1061934823030097 WOS Scopus OpenAlex
A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates
Journal of Analytical Chemistry. 2023. V.78. N3. P.316-323. DOI: 10.1134/s1061934823030097 WOS Scopus OpenAlex
Идентификаторы БД:
РИНЦ: | 50404529 |
OpenAlex: | W4394816603 |