Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей Научная публикация
| Журнал | Журнал аналитической химии ISSN: 0044-4502 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| Вых. Данные | Год: 2023, Том: 78, Номер: 3, Страницы: 208-215 Страниц : 8 DOI: 10.31857/S004445022303009X | ||||
| Авторы |  | ||||
| Организации | 
 | 
                        Библиографическая ссылка:
                                Медведев Н.С.
    ,        Курбатова В.Д.
    ,        Сапрыкин А.И.
    
Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей
Журнал аналитической химии. 2023. Т.78. №3. С.208-215. DOI: 10.31857/S004445022303009X РИНЦ OpenAlex
                                                                        Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей
Журнал аналитической химии. 2023. Т.78. №3. С.208-215. DOI: 10.31857/S004445022303009X РИНЦ OpenAlex
                                Переводная:
                                        Medvedev N.S.
    ,        Kurbatova V.D.
    ,        Saprykin A.I.
    
A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates
Journal of Analytical Chemistry. 2023. V.78. N3. P.316-323. DOI: 10.1134/s1061934823030097 WOS Scopus OpenAlex
                                            
                    
                    
                    A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates
Journal of Analytical Chemistry. 2023. V.78. N3. P.316-323. DOI: 10.1134/s1061934823030097 WOS Scopus OpenAlex
                        Идентификаторы БД:
                            
                    
                    
                                            
                    
                                            
                    
                | РИНЦ: | 50404529 | 
| OpenAlex: | W4394816603 |