Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей

Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей Full article

Journal

Журнал аналитической химии
ISSN: 0044-4502

Output data

Year: 2023, Volume: 78, Number: 3, Pages: 208-215 Pages count : 8 DOI: 10.31857/S004445022303009X

Authors

Medvedev Nikolai Sergeevich ¹ , Kurbatova Valeriya Dmitrievna ^1,2 , Saprykin Anatolii Ilʹich ^1,2

Affiliations

1	Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
2	Новосибирский государственный университет

Медведев Н.С. , Курбатова В.Д. , Сапрыкин А.И.
Метод тонкого слоя для ЛА-ИСП-МС анализа концентратов примесей
Журнал аналитической химии. 2023. Т.78. №3. С.208-215. DOI: 10.31857/S004445022303009X РИНЦ OpenAlex

Medvedev N.S. , Kurbatova V.D. , Saprykin A.I.
A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates
Journal of Analytical Chemistry. 2023. V.78. N3. P.316-323. DOI: 10.1134/s1061934823030097 WOS Scopus OpenAlex

Elibrary:	50404529
OpenAlex:	W4394816603

DB	Citing
OpenAlex	2
Elibrary	1