Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций Full article
| Journal |
Письма в Журнал физика элементарных частиц и атомного ядра (Письма в ЭЧАЯ)
ISSN: 1814-5957 , E-ISSN: 1814-7445 |
||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Output data | Year: 2025, Volume: 22, Number: 4, Pages: 539-546 Pages count : 8 | ||||||||||||
| Authors |
|
||||||||||||
| Affiliations |
|
Cite:
Бикчурина И.Б.
, Асанов И.П.
, Быков Т.А.
, Касатов Д.А.
, Колесников Я.А.
, Николаев А.Г.
, Окс Е.М.
, Остреинов Г.М.
, Савинов С.С.
, Соколова Е.О.
, Трубина С.В.
, Шуклина А.А.
, Юшков Г.Ю.
, Таскаев С.Ю.
Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций
Письма в Журнал физика элементарных частиц и атомного ядра (Письма в ЭЧАЯ). 2025. Т.22. №4. С.539-546.
Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций
Письма в Журнал физика элементарных частиц и атомного ядра (Письма в ЭЧАЯ). 2025. Т.22. №4. С.539-546.
Translated:
Bikchurina M.I.
, Asanov I.P.
, Bykov T.A.
, Kasatov D.A.
, Kolesnikov Y.A.
, Nikolaev A.G.
, Oks E.M.
, Ostreinov G.M.
, Savinov S.S.
, Sokolova E.O.
, Trubina S.V.
, Shuklina A.A.
, Yushkov G.Y.
, Taskaev S.Y.
Methods for Determining the Thickness and Elemental Composition of Thin Layers Irradiated by an Ion Beam in Measuring Nuclear Reaction Cross-Sections
Physics Of Particles And Nuclei Letters. 2025. V.22. N4. P.636-640. DOI: 10.1134/s154747712570027x WOS РИНЦ OpenAlex
Methods for Determining the Thickness and Elemental Composition of Thin Layers Irradiated by an Ion Beam in Measuring Nuclear Reaction Cross-Sections
Physics Of Particles And Nuclei Letters. 2025. V.22. N4. P.636-640. DOI: 10.1134/s154747712570027x WOS РИНЦ OpenAlex
Dates:
| Submitted: | Oct 28, 2024 |
| Published print: | Oct 8, 2025 |
Identifiers:
No identifiers
Citing:
Пока нет цитирований