Sciact
  • EN
  • RU

Methods for Determining the Thickness and Elemental Composition of Thin Layers Irradiated by an Ion Beam in Measuring Nuclear Reaction Cross-Sections Full article

Journal Physics Of Particles And Nuclei Letters
ISSN: 1547-4771 , E-ISSN: 1531-8567
Output data Year: 2025, Volume: 22, Number: 4, Pages: 636-640 Pages count : 5 DOI: 10.1134/s154747712570027x
Authors Bikchurina M.I. 1,2 , Asanov I.P. 3 , Bykov T.A. 1,2 , Kasatov D.A. 1,2 , Kolesnikov Ya.A. 1,2 , Nikolaev A.G. 4 , Oks E.M. 4,5 , Ostreinov G.M. 1,2 , Savinov S.S. 1,2 , Sokolova E.O. 1,2 , Trubina S.V. 2,3 , Shuklina A.A. 1,2 , Yushkov G.Yu. 4 , Taskaev S.Yu. 1,2,6
Affiliations
1 Budker Institute of Nuclear Physics SB RAS
2 Novosibirsk State University
3 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch of Russian Academy of Sciences
4 Institute of High Current Electronics
5 Tomsk State University of Control Systems and Radio-Electronics
6 Joint Institute for Nuclear Research
Cite: Bikchurina M.I. , Asanov I.P. , Bykov T.A. , Kasatov D.A. , Kolesnikov Y.A. , Nikolaev A.G. , Oks E.M. , Ostreinov G.M. , Savinov S.S. , Sokolova E.O. , Trubina S.V. , Shuklina A.A. , Yushkov G.Y. , Taskaev S.Y.
Methods for Determining the Thickness and Elemental Composition of Thin Layers Irradiated by an Ion Beam in Measuring Nuclear Reaction Cross-Sections
Physics Of Particles And Nuclei Letters. 2025. V.22. N4. P.636-640. DOI: 10.1134/s154747712570027x WOS РИНЦ OpenAlex
Original: Бикчурина И.Б. , Асанов И.П. , Быков Т.А. , Касатов Д.А. , Колесников Я.А. , Николаев А.Г. , Окс Е.М. , Остреинов Г.М. , Савинов С.С. , Соколова Е.О. , Трубина С.В. , Шуклина А.А. , Юшков Г.Ю. , Таскаев С.Ю.
Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций
Письма в Журнал физика элементарных частиц и атомного ядра (Письма в ЭЧАЯ). 2025. Т.22. №4. С.539-546.
Dates:
Published print: Aug 11, 2025
Identifiers:
Web of science: WOS:001548591700004
Elibrary: 82740543
OpenAlex: W4413216419
Citing: Пока нет цитирований
Altmetrics: