X-Ray Certification of Si, Ge, LaB6, and InSb Single Crystals Full article
Journal |
Journal of Structural Chemistry
ISSN: 1573-8779 , E-ISSN: 0022-4766 |
||||
---|---|---|---|---|---|
Output data | Year: 2025, Volume: 66, Number: 7, Pages: 1527-1536 Pages count : 10 DOI: 10.1134/s0022476625070157 | ||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Serebrennikova P.S.
, Gromilov S.A.
X-Ray Certification of Si, Ge, LaB6, and InSb Single Crystals
Journal of Structural Chemistry. 2025. V.66. N7. P.1527-1536. DOI: 10.1134/s0022476625070157 WOS РИНЦ OpenAlex
X-Ray Certification of Si, Ge, LaB6, and InSb Single Crystals
Journal of Structural Chemistry. 2025. V.66. N7. P.1527-1536. DOI: 10.1134/s0022476625070157 WOS РИНЦ OpenAlex
Original:
Серебренникова П.C.
, Громилов С.А.
Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb
Журнал структурной химии. 2025. Т.66. №7. 148915 . DOI: 10.26902/jsc_id148915 OpenAlex
Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb
Журнал структурной химии. 2025. Т.66. №7. 148915 . DOI: 10.26902/jsc_id148915 OpenAlex
Dates:
Published print: | Aug 5, 2025 |
Identifiers:
Web of science: | WOS:001544866900016 |
Elibrary: | 82714518 |
OpenAlex: | W4412955025 |
Citing:
Пока нет цитирований