Sciact
  • EN
  • RU

X-Ray Certification of Si, Ge, LaB6, and InSb Single Crystals Full article

Journal Journal of Structural Chemistry
ISSN: 1573-8779 , E-ISSN: 0022-4766
Output data Year: 2025, Volume: 66, Number: 7, Pages: 1527-1536 Pages count : 10 DOI: 10.1134/s0022476625070157
Authors Serebrennikova P.S. 1,2 , Gromilov S.A. 1,2
Affiliations
1 Novosibirsk State University
2 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch of Russian Academy of Sciences
Cite: Serebrennikova P.S. , Gromilov S.A.
X-Ray Certification of Si, Ge, LaB6, and InSb Single Crystals
Journal of Structural Chemistry. 2025. V.66. N7. P.1527-1536. DOI: 10.1134/s0022476625070157 WOS РИНЦ OpenAlex
Original: Серебренникова П.C. , Громилов С.А.
Рентгенографическая аттестация монокристаллов особо чистых веществ Si, Ge, LaB6 и InSb
Журнал структурной химии. 2025. Т.66. №7. 148915 . DOI: 10.26902/jsc_id148915 OpenAlex
Dates:
Published print: Aug 5, 2025
Identifiers:
Web of science: WOS:001544866900016
Elibrary: 82714518
OpenAlex: W4412955025
Citing: Пока нет цитирований
Altmetrics: