X-Ray Certification of Si, Ge, LaB6, and InSb Single Crystals Научная публикация

Журнал	Journal of Structural Chemistry ISSN: 1573-8779 , E-ISSN: 0022-4766
Вых. Данные	Год: 2025, Том: 66, Номер: 7, Страницы: 1527-1536 Страниц : 10 DOI: 10.1134/s0022476625070157
Авторы	Serebrennikova P.S. 1,2 , Gromilov S.A. 1,2
Организации	1 Novosibirsk State University 2 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch of Russian Academy of Sciences