Sciact
  • EN
  • RU

Low temperature atomic layer deposition of boron nitride using the in-situ decomposition of ammonium carbamate Научная публикация

Журнал Chemical Communications
ISSN: 1359-7345 , E-ISSN: 1364-548X
Вых. Данные Год: 2025, Том: 61, Номер: 63, Страницы: 11774-11777 Страниц : 4 DOI: 10.1039/d5cc02613j
Авторы Álvarez-Yenes Ana 1,2 , Koroteev Victor O 1 , Ryzhikov Maxim R 3 , Ilyn Maxim 4 , Kozlova Svetlana G 3 , Knez Mato 1,5
Организации
1 CIC nanoGUNE BRTA, 20018 Donostia-San Sebastián, Basque Country, Spain. an.alvarez@nanogune.eu.
2 University of the Basque Country UPV/EHU, 20018 Donostia-San Sebastián, Basque Country, Spain.
3 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch of Russian Academy of Science, 630090 Novosibirsk, Russian Federation.
4 Centro de Física de Materiales CSIC-UPV/EHU, 20018 Donostia-San Sebastián, Basque Country, Spain.
5 IKERBASQUE, Basque Foundation for Science, 48011 Bilbao, Basque Country, Spain.

Реферат: Here, we report on a new atomic layer deposition (ALD) process for the growth of amorphous boron nitride thin films at low temperatures (100–275 °C) using carbamic acid, a highly reactive intermediate species found in the decomposition of ammonium carbamate, as the nitrogen source.
Библиографическая ссылка: Álvarez-Yenes A. , Koroteev V.O. , Ryzhikov M.R. , Ilyn M. , Kozlova S.G. , Knez M.
Low temperature atomic layer deposition of boron nitride using the in-situ decomposition of ammonium carbamate
Chemical Communications. 2025. V.61. N63. P.11774-11777. DOI: 10.1039/d5cc02613j WOS OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 8 мая 2025 г.
Принята к публикации: 26 июн. 2025 г.
Опубликована online: 27 июн. 2025 г.
Опубликована в печати: 14 авг. 2025 г.
Идентификаторы БД:
Web of science: WOS:001522481800001
OpenAlex: W4411740104
Цитирование в БД: Пока нет цитирований
Альметрики: