Thin Layer Method For LA-ICP-MS Analysis Of Trace Elements Concentrates Of Germanium Dioxide Научная публикация

Журнал	Atomic Spectroscopy ISSN: 0195-5373
Вых. Данные	Год: 2024, Том: 45, Номер: 01, Страницы: 26-32 Страниц : 7 DOI: 10.46770/as.2023.256
Авторы	Medvedev Nickolay S. 1 , Kurbatova Valeriya D. 1,2 , Guselnikova Tatiana Ya. 1 , Saprykin Anatoly I. 1,2
Организации	1 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch of Russian Academy of Sciences (NIIC SB RAS), 3, Acad. Lavrentiev Ave., Novosibirsk, 630090, Russia 2 Novosibirsk National Research State University, 2, Pirogova St, Novosibirsk 630090, Russia