Thin Layer Method For LA-ICP-MS Analysis Of Trace Elements Concentrates Of Germanium Dioxide

Журнал

Atomic Spectroscopy
ISSN: 0195-5373

Вых. Данные

Год: 2024, Том: 45, Номер: 01, Страницы: 26-32 Страниц : 7 DOI: 10.46770/as.2023.256

Авторы

Medvedev Nickolay S. ¹ , Kurbatova Valeriya D. ^1,2 , Guselnikova Tatiana Ya. ¹ , Saprykin Anatoly I. ^1,2

Организации

1	Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch of Russian Academy of Sciences (NIIC SB RAS), 3, Acad. Lavrentiev Ave., Novosibirsk, 630090, Russia
2	Novosibirsk National Research State University, 2, Pirogova St, Novosibirsk 630090, Russia

Medvedev N.S. , Kurbatova V.D. , Guselnikova T.Y. , Saprykin A.I.
Thin Layer Method For LA-ICP-MS Analysis Of Trace Elements Concentrates Of Germanium Dioxide
Atomic Spectroscopy. 2024. V.45. N01. P.26-32. DOI: 10.46770/as.2023.256 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex

Поступила в редакцию:	15 дек. 2023 г.
Опубликована online:	20 февр. 2024 г.