Abstract: В данной работе методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС), рентгеновской спектроскопии поглощения (NEXAFS) и спектроскопии комбинационного рассеяния света (КРС) проведено исследование трансформации поверхности алмаза под слоем железа в условиях высокотемпературного отжига. Формирование графитового углерода на поверхности монокристаллического алмаза и поликристаллической алмазной пленки установлено при температуре около 600 °С. Из данных угловой зависимости NEXAFS C K-спектров был сделан вывод о перпендикулярной ориентации графитовых слоев относительно поверхности отожженного алмаза со слоем железа.

Cite: Седельникова О.В. , Городецкий Д.В. , Федоренко А.Д. , Гребенкина М.А. , Лавров А.Н. , Булушева Л.Г. , Окотруб А.В.
Графитизация алмаза в результате отжига под слоем железа
Четвертая Российская конференция «Графен: молекула и 2D-кристалл» 14-18 авг. 2023