Sciact
  • EN
  • RU

Interfacial adhesion in the ”MWCNT/Ti“ system and its improvement using ion beam treatment: a comparative analysis of the effects of argon and helium ions Научная публикация

Журнал Technical Physics
ISSN: 1090-6525 , E-ISSN: 1063-7842
Вых. Данные Год: 2024, Том: 69, Номер: 8, Номер статьи : 1261, Страниц : 10 DOI: 10.61011/TP.2024.08.59015.97-24
Ключевые слова multi-walled carbon nanotubes (MWCNTs), irradiation with helium and argon ions, interfacial adhesion, atomic force microscopy (AFM), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Авторы Knyazev E.V. 1,3 , Korusenko P.M. 2,3 , Petrova O.V. 2,4 , Sokolov D.V. 1 , Povoroznyuk S.N. 1,3 , Ivlev K.E. 1 , Bakina K.A. 2,4 , Gaas V.A. 2 , Vinogradov A.S. 2
Организации
1 Omsk Scientific Center, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, 644024 Omsk, Russia
2 St. Petersburg State University, 199034 St. Petersburg, Russia
3 Omsk State Technical University, 644050 Omsk, Russia
4 Komi Scientific Center of the Ural Branch of the Russian Academy of Sciences, 167982 Syktyvkar, Russia
Библиографическая ссылка: Knyazev E.V. , Korusenko P.M. , Petrova O.V. , Sokolov D.V. , Povoroznyuk S.N. , Ivlev K.E. , Bakina K.A. , Gaas V.A. , Vinogradov A.S.
Interfacial adhesion in the ”MWCNT/Ti“ system and its improvement using ion beam treatment: a comparative analysis of the effects of argon and helium ions
Technical Physics. 2024. Т.69. №8. 1261 :1-10. DOI: 10.61011/TP.2024.08.59015.97-24
Оригинальная: Князев Е.В. , Корусенко П.М. , Петрова О.В. , Соколов Д.В. , Поворознюк С.Н. , Ивлев К.Е. , Бакина К.А. , Гаас В.А. , Виноградов А.С.
Межфазная адгезия в системе ”МУНТ/Ti“ и ее улучшение с использованием ионно-пучковой обработки: сравнительный анализ воздействия ионов аргона и гелия
Журнал технической физики. 2024. Т.94. №8. С.1362-1371. DOI: 10.61011/JTF.2024.08.58565.97-24
Даты:
Поступила в редакцию: 22 мар. 2024 г.
Принята к публикации: 17 мая 2024 г.
Опубликована в печати: 31 мая 2024 г.
Опубликована online: 27 июл. 2024 г.
Идентификаторы БД: Нет идентификаторов
Альметрики: