Sciact
  • EN
  • RU

Epitaxial Growth of SiC Films on 4H-SiC Substrate by High-Frequency Induction-Heated Halide Chemical Vapor Deposition Научная публикация

Журнал Coatings
ISSN: 2079-6412
Вых. Данные Год: 2022, Том: 12, Номер: 3, Номер статьи : 329, Страниц : 13 DOI: 10.3390/coatings12030329
Авторы Tu Rong 1,2,3 , Liu Chengyin 1 , Xu Qingfang 1 , Liu Kai 1 , Li Qizhong 1 , Zhang Xian 3 , Kosinova Marina L. 4 , Goto Takashi 1 , Zhang Song 1
Организации
1 State Key Lab of Advanced Technology for Materials Synthesis and Processing, Wuhan University of Technology, Wuhan 430070, China
2 Chaozhou Branch of Chemistry and Chemical Engineering Guangdong Laboratory, Chaozhou 521000, China
3 Wuhan University of Technology Advanced Engineering Technology Research Institute of Zhongshan City, Zhongshan 528400, China
4 Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Russian Academy of Sciences Siberian Branch, 3 Acad. Lavrerntiev Pr., 630090 Novosibirsk, Russia
Библиографическая ссылка: Tu R. , Liu C. , Xu Q. , Liu K. , Li Q. , Zhang X. , Kosinova M.L. , Goto T. , Zhang S.
Epitaxial Growth of SiC Films on 4H-SiC Substrate by High-Frequency Induction-Heated Halide Chemical Vapor Deposition
Coatings. 2022. V.12. N3. 329 :1-13. DOI: 10.3390/coatings12030329 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 18 янв. 2022 г.
Опубликована в печати: 2 мар. 2022 г.
Идентификаторы БД:
Web of science: WOS:000775802800001
Scopus: 2-s2.0-85126035120
РИНЦ: 48189500
OpenAlex: W4214815440
Цитирование в БД:
БД Цитирований
OpenAlex 7
Scopus 4
Web of science 5
РИНЦ 4
Альметрики: