Electronic Structure and Seebeck Coefficient of the Vanadium-Doped Layered Copper–Chromium Disulfides Научная публикация
Журнал |
Surface investigation: x-ray, synchrotron and neutron techniques
ISSN: 1027-4510 , E-ISSN: 1819-7094 |
||||
---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2023, Том: 17, Номер: 6, Страницы: 1472-1482 Страниц : 11 DOI: 10.1134/S1027451023060307 | ||||
Авторы |
|
||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Korotaev E.V.
, Syrokvashin M.M.
, Filatova I.Y.
, Kriventsov V.V.
Electronic Structure and Seebeck Coefficient of the Vanadium-Doped Layered Copper–Chromium Disulfides
Surface investigation: x-ray, synchrotron and neutron techniques. 2023. Т.17. №6. С.1472-1482. DOI: 10.1134/S1027451023060307 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex
Electronic Structure and Seebeck Coefficient of the Vanadium-Doped Layered Copper–Chromium Disulfides
Surface investigation: x-ray, synchrotron and neutron techniques. 2023. Т.17. №6. С.1472-1482. DOI: 10.1134/S1027451023060307 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: | 9 апр. 2023 г. |
Принята к публикации: | 24 июн. 2023 г. |
Опубликована в печати: | 24 июн. 2023 г. |
Идентификаторы БД:
Web of science: | WOS:001156272100002 |
Scopus: | 2-s2.0-85178901683 |
РИНЦ: | 56105700 |
OpenAlex: | W4389488876 |
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований