Sciact
  • EN
  • RU

Electronic Structure and Seebeck Coefficient of the Vanadium-Doped Layered Copper–Chromium Disulfides Научная публикация

Журнал Surface investigation: x-ray, synchrotron and neutron techniques
ISSN: 1027-4510 , E-ISSN: 1819-7094
Вых. Данные Год: 2023, Том: 17, Номер: 6, Страницы: 1472-1482 Страниц : 11 DOI: 10.1134/S1027451023060307
Авторы Korotaev E.V. 1 , Syrokvashin M.M. 1 , Filatova I.Yu. 1 , Kriventsov V.V. 2
Организации
1 Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
2 Институт катализа имени Г. К. Борескова СО РАН
Библиографическая ссылка: Korotaev E.V. , Syrokvashin M.M. , Filatova I.Y. , Kriventsov V.V.
Electronic Structure and Seebeck Coefficient of the Vanadium-Doped Layered Copper–Chromium Disulfides
Surface investigation: x-ray, synchrotron and neutron techniques. 2023. Т.17. №6. С.1472-1482. DOI: 10.1134/S1027451023060307 WOS Scopus РИНЦ OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: 9 апр. 2023 г.
Принята к публикации: 24 июн. 2023 г.
Опубликована в печати: 24 июн. 2023 г.
Идентификаторы БД:
Web of science: WOS:001156272100002
Scopus: 2-s2.0-85178901683
РИНЦ: 56105700
OpenAlex: W4389488876
Цитирование в БД: Пока нет цитирований
Альметрики: